检测分析
检测中心培养了专业的工程技术人员，借助科学的检测分析标准或方法，和精密的仪器设备，帮助客户解决在产品研发、生产、贸易等环节遇到的各种与材料及零部件相关的工程、科学和技术问题。
微观形貌
热场发射扫描电镜
全自动微孔物理吸附仪
原子力显微镜
激光粒度仪
透射电子显微镜
盐雾测试机
金相显微镜
光谱分析
X射线衍射仪
拉曼快速成像光谱仪
紫外分光光度计
傅里叶红外光谱仪
热性分析
激光导热分析仪
差示扫描量热仪
热重分析仪
动态热机械分析仪
物性测试
X射线光子能谱衍射仪
气相色谱仪
元素分析仪
电感耦合等离子光谱发生仪
粉末电阻仪
设备展示
形貌成分分析 设备
德国蔡司Sigma300
热场发射扫描电子显微镜(FESEM)+能谱仪(EDS)
应用范围：材料形貌、物相分析，元素种类含量分析；
分辨率：不低于1.2nm/15kV（二次电子像）；
放大倍率：10-1000000倍；
加速电压：0.02kV-30kV；
电子束流：最大束流不低于20nA；
样品要求：干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可。
形貌成分分析 设备
美国布鲁克 Dimension ICON
原子力显微镜（AFM）
应用范围：反应样品材料表面的3D形貌及局部物理特征，表征样品表面的高度差、粗糙度和粘弹性等信息。在材料科学和生命科学领域广泛运用。
成像模式：Contact mode（接触模式）、Tapping mode（轻敲模式）、ScanAsyst（智能成像模式）、LFM（水平力模式）、EFM（压电力模式）、Surface potential（表面电势）、PR-Mode（压电响应模式）
扫描范围：0.5-----96微米
样品要求：块体，表面尽量平整光滑，高度小于1cm，长宽大于1mm；粉末无特别要求。
形貌成分分析 设备
日本岛津XRD-6100 X射线衍射仪（XRD）
应用范围：在大气中无损分析试样（粉晶或者薄膜）的物相分析、定性分析、晶格常数确定和应力测定等。广泛应用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域。
最大管电压：60KV
扫描角度范围：-6°~163°
扫描速率：(0.1°~50°)/min
回转速度：1000°/min
测试精度：0.001°/步
样品要求：金属、非金属的块、片或粉末状，薄膜
光谱分析 设备
德国威泰克 Alpha300R 共聚焦拉曼快速显微成像系统（RAMAN）
应用范围：用于有机化合物、无机化合物、高分子聚合物、生物膜等各种材料的结构特性分析。在半导体、聚合物、碳材料、地质学、生命科学、医学、化学、环境、物理等领域广泛运用。
配备激光器波长：488nm
高速显微拉曼光谱成像：逐点扫描，最小步长2nm，空间分辨率优于320nm
低波数拉曼光谱测试及成像：≤10cm-1
光谱分辨率：优于1cm-1
光斑直径：不大于500nm
Mapping范围：150*150um MAX
样品要求：固体、液体和气体样品
光谱分析 设备
美国安捷伦7820A 气相色谱仪
应用范围：鉴别混合物中不同物质组成及其含量。例如：食品中有害成分、物质中的杂质、环境污染物、药物有效成分、代谢物、刑事鉴定、石油化工中含量成分分析。在环境、生物化学、药物、石油加工、有机化学等领域广泛运用。
技术参数：保留时间的重现性≤0.05%
峰面积重现性＜1%RDS
样品要求：低沸点的有机物及溶液
光谱分析 设备
日本日立U-3900 分光光度计
应用范围：可进行定量分析，还可利用吸收峰的特性进行定性分析和简单的结构分析，测定一些平衡常数、配合物配比等；也可用于无机化合物和有机化合物的分析，对于常量、微量、多组分都可测定。在环境、化学等领域广泛运用。
波长扫描速度：1.5、3、15、30、60、120、300、600、1200、1800、2400nm/min紫外扫描速度可变。
样品要求：固体、液体、薄膜、粉末材料
物性分析 设备
美国麦克 ASAP2460全自动多站式微孔物理吸附仪
应用范围：用于测量单点、多点比表面积，Langmuir表面积，BJH孔径分布，Dubinin-Radushkevich微孔面积，总孔体积，微孔孔径分布等信息。在能源、电池、医药等行业广泛运用。
分析范围：比表面积：0.0001m2/g无上限
孔径分析范围：3.5Å~5000Å
孔体积最小检测：0.0001 cc/g
相对压力范围（P/P0）:≤10-7
压力精度：±0.10%（满量程1000mmHg范围）
样品要求：粉末及具有微孔或者介孔结构的其他材料
物性分析 设备
日本堀场HORIBA LA-960S 激光粒度仪
应用范围：测量固体颗粒大小和分布信息。广泛运用在建材、化工、冶金、能源、食品等领域。配备湿法进样器、干法进样器。
样品要求：粉末，粒径范围在0.1-3000微米。
物性分析 设备
瑞士梅特勒-托利多DMA1动态机械分析仪
应用范围：测量粘弹性材料在周期性力或位移作用下的力学性能与温度或频率之间的关系。
温度范围：-190℃-600℃
应力范围：±0.001N到±10N
位移范围：±1mm
频率范围：0.001Hz到300Hz
刚度范围：50N/m到105N/m
Tanδ范围：0.0001到50
物性分析 设备
瑞士梅特勒-托利多TGA2 热重分析仪
应用范围：测量物质的质量随温度(或时间)的变化关系。常用在塑料、建筑材料、矿物质、药物以及食品行业等领域，为研发和质量控制提供了大量的有价值的信息。
温度范围：室温～1100℃
温度准确性：±1K
天平灵敏度：0.1μg或0.01μg
空白曲线重复性：全温度范围内优于±10μg
样品要求：2-10mg粉末、固体
物性分析 设备
瑞士梅特勒-托利多DSC3差示扫描量热仪
应用范围： 灵敏度和分辨率高，适合测量弱效应，可测量快速变化和几乎重叠的热效应，适合微量样品或非均匀样品，全天候高效、可靠运营。
温度范围：-40 ℃-500 ℃
升温速率：0.02-300 ℃/min，默认10 ℃/ min
冷却速率：0.02-50 ℃/min
样品要求：不可测试易燃易爆、和易升华样品；可测固体和液体样品
物性分析 设备
德国耐驰LFA467激光导热分析仪
应用范围：用于测量不同种类的固体、粉末与液体样品的热扩散系数与导热系数。适合金属、碳材料的高温测量。广泛应用于建筑材料、航空航天材料、汽车材料等领域。
测量温度范围：25°C~500°C
热扩散系数测量范围：(0.01~ 1000)mm2/s
导热系数测量范围：(0.1~2000)W/mK
测量模式：水平传导模式、 垂直传导模式
样品厚度：(0.01~5) mmI
样品要求：固体片状材料、薄膜
样品厚度：直径12.7mm的圆、直径25.4mm的圆
形貌成分分析 设备
美国布鲁克Dektak XT台阶仪
应用范围：测量纳米尺度的表面轮廓、薄膜厚度和平整度等信息。广泛应用于微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域。
测量重复性：5Å，1δ(10000Å的标准台阶)
最大扫描长度：55mm
标准垂直测量范围：1mm
扫描方式：线性扫描(基于精确光学平面的样品台)
样品要求：平面片状固体样品。